Analizzare i nuovi materiali e mettere a punto nuovi dispositivi elettronici miniaturizzati: è quanto permetterà di fare l’innovativo microscopio inaugurato a Pisa presso l’Istituto Nazionale di Fisica Nucleare. 

Chiamato Dual Beam, il microscopio è fra i pochissimi del genere in Italia e si trova presso il centro per l’integrazione della strumentazione scientifica dell’Università di Pisa. 

Si tratta di un microscopio a doppio fascio, che combina un fascio elettronico a scansione (Sem) per ottenere immagini di alta risoluzione e un fascio ionico focalizzato (Fib) per scavare e quindi scolpire il campione, fino alla scala submicroscopica che arriva a decine di nanometri.

Lo strumento servirà per tre attività principali:

1- L’analisi morfologica, strutturale e composizionale bi e tridimensionale, fino alla scala nanometrica, di tutti i tipi di materiali

2- La preparazione di campioni per prove meccaniche, lamelle ultrasottili (minori di 80 nanometri) perché siano trasparenti al fascio elettronico di microscopi elettronici a trasmissione per successive analisi mineralogiche e cristallografiche fino alla scala atomica, micropunte per tomografia isotopica 3D alla scala atomica e così via

3- La nanofabbricazione di dispositivi tecnologici mediante litografia e/o deposizione di metalli.

“Il Dual Beam – osserva il prorettore per l’Organizzazione della ricerca, Alessandro Tredicucciservirà per promuovere la ricerca e la formazione nel campo dell’analisi dei materiali e della nanofabbricazione di dispositivi tecnologici, dando un rilevante contributo nel sostenere la capacità competitiva dell’Università, e, ci auguriamo, di tutto il sistema pisano, a livello nazionale e internazionale”.

Costato oltre 1 milione di euro, grazie a un finanziamento ministeriale, e realizzato dall’azienda tedesca Zeiss, il Dual Beam potrà essere utilizzato dai ricercatori dell’ateneo e affiliati, dai ricercatori di altri enti di ricerca, da amministrazioni pubbliche e da aziende private.

I docenti potranno usarlo anche per le attività di formazione.

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